透射电子显微镜（TEM）是一种高分辨率的显微镜，广泛应用于材料科学、生物学等领域，用于观察亚显微结构。TEM的分辨率通常为0.1～0.2nm，这一数值远高于光学显微镜的分辨率（约200nm）。TEM的高分辨率得益于其使用电子束作为光源，电子束的波长比可见光短，因此可以提供更高的分辨率。
TEM的分辨率受到多种因素的影响，包括透镜的固有像差和加速电压。大孔径角的磁透镜在100KV时，分辨率可达0.005nm，但实际TEM分辨率通常只能达到0.1-0.2nm。提高加速电压可以提高分辨率，已有300KV以上的商品高压电镜，高压不仅提高了分辨率，而且允许样品有较大的厚度，推迟了样品受电子束损伤的时间。
TEM的放大倍数也非常高，最大的放大倍数可达几十万倍，甚至近百万倍。这样的放大倍数使得TEM能够观察到比光学显微镜所能观察到的结构小数万倍的细微结构，如单个原子的排列。
在实际应用中，TEM的分辨率和放大倍数是其进行材料分析和生物学研究的重要参数。通过TEM，科研人员可以观察到物质的微观结构，这对于理解材料的性质和生物细胞的结构至关重要。